- 新品推薦
- 靜電系列
- 脈沖發(fā)生器
- 功能材料系列
- 功率放大器系列
- 功能材料試驗(yàn)設(shè)備
-
工程塑料絕緣材料系列
-
絕緣材料測試儀器
-
高頻高壓絕緣電阻、介電測...
-
塞貝克系數(shù)電阻測試儀
-
介質(zhì)損耗分析系統(tǒng)
-
傳感器多功能綜合測試系統(tǒng)
-
絕緣電阻劣化(離子遷移)...
-
變溫極化耐擊穿測試儀(高...
-
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)
-
耐壓絕緣測試儀
-
空間電荷測量系統(tǒng)
-
表面、體積電阻率測試儀(...
-
耐電弧試驗(yàn)儀
-
電壓擊穿試驗(yàn)儀
-
工頻介電常數(shù)測試儀
-
低壓漏電起痕試驗(yàn)儀
-
半導(dǎo)體封裝材料TSDC測...
-
絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)
-
長期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)
-
絕緣診斷測試系統(tǒng)
-
導(dǎo)電與防靜電體積電阻率測...
-
絕緣材料測試儀器
- 儲(chǔ)能科學(xué)與工程試驗(yàn)設(shè)備
- 附件及配件
多通道電流矩陣模塊可擴(kuò)展通道
產(chǎn)品特點(diǎn)
高密度集成
單機(jī)箱支持*高128通道,節(jié)省90%設(shè)備空間,降低機(jī)柜與線纜成本。
毫秒級(jí)切換
高速矩陣開關(guān)(20ms切換時(shí)間)支持動(dòng)態(tài)負(fù)載切換與高速掃描測試。
模塊化擴(kuò)展
支持熱插拔通道卡,可按需擴(kuò)展通道數(shù)(*小8通道起,以8為增量擴(kuò)展)。
信號(hào)完整性
低電容設(shè)計(jì),支持快速建立穩(wěn)定的測量信號(hào),減少測試時(shí)間。
寬電流范圍
精心設(shè)計(jì)的信號(hào)路徑確保設(shè)備在 ±1 pA 至 ±100 mA 的寬動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)切換信號(hào)時(shí),引入的干擾和誤差極小,滿足從超高阻值材料漏電測試到一般電子元件特性分析的需求。
抗干擾與低噪聲
低熱電動(dòng)勢(shì) (< 1 μV) 設(shè)計(jì),消除熱電效應(yīng)對(duì)微弱直流測量的影響。
低漏電流路徑 (< 1 fA @ 典型值) ,確保 pA 級(jí)微弱電流測量的準(zhǔn)確性。
屏蔽與布線設(shè)計(jì),*大限度降低串?dāng)_和外部噪聲干擾。
應(yīng)用案例
可以構(gòu)建高通道數(shù)、微弱電流/高阻自動(dòng)化測試系統(tǒng)。
將單臺(tái)靜電計(jì)擴(kuò)展為多通道測試系統(tǒng),提高設(shè)備利用率和測試效率。
無人值守的長時(shí)間、多樣品連續(xù)測試,保證數(shù)據(jù)一致性和可比性。
捕捉 pA 級(jí)甚至 fA 級(jí)的微弱電流變化,滿足測試要求。
產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào):HC-PAX
通道數(shù)量:基礎(chǔ)單元8通道,單機(jī)箱128通道,可拓展8機(jī)箱1024通道
電流范圍:±1pA ~ ±100mA
電流接口:分口是8芯雷莫,總口是BNC
通信接口:RS485
供電要求:100-240V AC, 50/60Hz,單機(jī)箱*大60W
外形尺寸:長×寬×高 44cm×13.5cm×30cm(不含所有凸起)
工作溫度:10℃ ~ +50℃
工作溫度:濕度40%~60% RH 無冷凝
應(yīng)用領(lǐng)域
高阻材料與元件測試:絕緣材料、陶瓷、薄膜、高阻值電阻的電阻率/漏電流自動(dòng)化測量。
半導(dǎo)體器件特性分析: 晶體管/二極管漏電流 (Ioff, Gate Leakage), 電容漏電,晶圓級(jí)可靠性測試 (WLR)。
傳感器測試與標(biāo)定: 光電二極管暗電流、電化學(xué)/生物傳感器電流、輻射探測器電流。
電池與儲(chǔ)能測試: 電池自放電電流監(jiān)測、模組/Pack絕緣電阻測試。
靜電與ESD研究: 防靜電材料電阻率測量、靜電荷衰減測試。
光電與光伏器件測試: 太陽能電池暗電流、LED/OLED微弱漏電流、探測器陣列測試。
環(huán)境監(jiān)測與科學(xué)儀器: 電離室電流采集、多通道微弱信號(hào)切換。
多器件并行參數(shù)測試: 配合源表進(jìn)行批量器件的I-V掃描、導(dǎo)通電阻測量等。